一文读懂蔡司扫描技术

发布时间：2021-12-24

蔡司在30多年前就推出了第一台扫描系统，这一创举彻底改变了测量技术的发展趋势。从那时起，我们不断提高测量技术和测量方法。随着主动扫描和VAST navigator 领航者技术以及 FlyScan飞翔扫描等应用，蔡司确立了其坐标测量技术创新领航者的地位。

接触式扫描的发明者

1974年，蔡司首次在精密测量实验室的坐标测量中采用了扫描的方法。随着1995年VAST测头的问世，该项技术随即成为工业和车间测量的标准。就经验和技术而言，没有其他任何坐标测量机制造商可望其项背。在全球范围内，已安装的扫描系统中，大约 75%来自蔡司。

连续扫描不同于接触式测针系统的单点测量，可连续探测工件表面，从而迅速捕获大量有特征的测量点。大量的科学研究表明，一个特征的不确定性和测量点的数量之间存在一个明显联系。

独特的蔡司技术：主动式扫描

大多数扫描系统为被动式设计。其测力由一个弹性平行四边形生成。由于被动测头的控制范围小，不断变化的测力会对它们造成不同的影响，从而导致测针发生较大的弯曲并导致大的探测误差。这样当轮廓曲率增大时，精度就会降低。相反地，蔡司采用主动扫描测头，例如蔡司的VAST XT gold测头连续测量测针挠度。主动在材料的法线方向施加一个恒定低电子测力。例如，测针沿桥架加速的方向移动。从而排除了测力的影响。由于可以保持小的恒定测力。则使测量结果更加精准。