演讲简介
汽车、航空航天、医疗技术、电子、消费品等各行业皆有其制造流程,往往会出现肉眼无法察觉的各类潜在缺陷。蔡司X射线检测技术提供了全新的洞察力,从内部缺陷检测、内部结构尺寸测量,到材料结构分析。
在质量及过程控制方面,蔡司工业CT不需破坏工件且仅需一次扫描,您可以快速无损地采集、分析、测量及检测工件内部结构。对于需要2微米甚至更小的分辨率的BGA(焊球阵列封装)和CSP (芯片级封装) 的检测应用,X射线显微镜独特的二级放大原理,最高分辨率达到500 nm,通过对样品进行高分辨三维成像,得到高分辨虚拟切片图像。此外,蔡司显微技术能够让您完成失效分析中对材料各种微观信息的收集,从而对您解决问题提供帮助。
会议关键词:
话题一:
贯穿电子领域全流程的质量解决方案
话题二:
蔡司X射线显微镜和Laser-FIB在电子器件失效分析的应用
演讲嘉宾
演讲嘉宾:韩定中
专家职务:全国产品销售经理
专家简介:2007年加入蔡司中国,具有丰富的工业质量应用实践经验,曾为国内外近1000所企业及研究院所提供产品技术解决方案及讲演。现专注于X射线产品系列及应用,参与X射线相关国家标准的制修订,擅长工业 CT 在几何量测量及在线检测等领域的应用。
专家职务:高级产品工程师
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